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Ionenschleifmaschine ArBlade 5000
Der ArBlade 5000 ist ein leistungsstarkes Modell der Hitachi Ionenschleifmaschine. Es ermöglicht ein ultraschnelles Schnittschleifen. Hocheffiziente S
Produktdetails
Ionenschleifmaschine ArBlade 5000
Der ArBlade 5000 ist ein leistungsstarkes Modell der Hitachi Ionenschleifmaschine.
Es ermöglicht ein ultraschnelles Schnittschleifen.
Hocheffiziente Schnittbearbeitungsfunktionen vereinfachen die Probenbearbeitung bei der Beobachtung von Elektroskopsschnitten.
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Eigenschaften
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Spezifikationen
Eigenschaften
Schnittschleifgeschwindigkeiten bis zu 1 mm/h*1！
Die neu entwickelte PLUSII-Ionenpistole emittiert einen Ionenstrahl mit hoher Stromdichte, der deutlich verbessert wird*2Die Schleifgeschwindigkeit.
- *1
- Si-Steckrand 100 µm, maximale Bearbeitungstiefe 1 Stunde
- *2
- Die Schleifgeschwindigkeit ist doppelt so hoch wie unsere Produkte (IM4000PLUS: Produktion 2014)
Abschnittsschleifergebnisse vergleichen
(Muster: automatischer Bleistiftkern, Schleifzeit: 1,5 Stunden)
Produkte des Unternehmens IM4000PLUS
ArBlade 5000
Maximale Schnittbreite bis 8 mm!
Mit einer Breitbereichsschleifprobenstütze mit einer Bearbeitungsbreite von bis zu 8 mm eignet sich das Schleifen von elektronischen Komponenten usw.
Verbundschleifmaschine
Die IM4000-Serie von Composite-Ionenschleifmaschinen (Querschnittsschleifen, Flachschleifen) ist sehr gut bewertet.
Die Proben können nach Bedarf vorbehandelt werden.
Schnittschleifen
Schneiden oder mechanisch schleifen Schnittstellen von weichen Materialien oder Verbundwerkstoffen, die schwer zu handhaben sind
Flachschleifen
Reparatur oder Oberflächenreinigung von Proben nach dem mechanischen Schleifen
Schnittschneidenbearbeitung
Diagramm der Flachschleifbearbeitung
Spezifikationen
| Allgemein | |
|---|---|
| Gas verwenden | Ar(Argon)gas |
| Beschleunigte Spannung | 0～8 kV |
| Schnittschleifen | |
| Schnellste Schleifgeschwindigkeit (Material Si) | 1 mm/hr*1Mehr als 1 mm/h*1 |
| Maximale Schleifbreite | 8 mm*2 |
| Maximale Probengröße | 20(W) × 12(D) × 7(H) mm |
| Bewegungsbereich der Probe | X ± 7 mm, Y 0 ~ + 3 mm |
| Ionenstrahlbearbeitung | Standardkonfiguration |
| Schwingwinkel | ±15°, ±30°, ±40° |
| Flachschleifen | |
| Maximaler Bearbeitungsbereich | φ32 mm |
| Maximale Probengröße | φ50 × 25(H) mm |
| Bewegungsbereich der Probe | X 0～+5 mm |
| Ionenstrahlbearbeitung | Standardkonfiguration |
| Drehgeschwindigkeit | 1 r/m、25 r/m |
| Neigungswinkel | 0～90° |
- *1
- Si-Steckrand 100 µm, maximale Bearbeitungstiefe 1 Stunde
- *2
- Beim Schleifen des Probensitzes mit breiten Schnittbereichen
Auswahl
| Projekte | Inhalt |
|---|---|
| Hohe Verschleißbeständigkeit | Verschleißfeste Absperrplatten sind etwa doppelt so hoch wie Standard-Absperrplatten (ohne Kobalt) |
| Mikroskope zur Bearbeitungsüberwachung | Vergrößerungsvergrößerung 15 x bis 100 x Doppeloptik und Trioptik (CCD kann hinzugefügt werden) |
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